XRF如何工作 - X射線(xiàn)熒光光譜

　　X射線(xiàn)熒光（XRF）是用于確定各種材料中元素濃度的非破壞性分析方法。

　　XRF通過(guò)用來(lái)自X射線(xiàn)管的X射線(xiàn)束照射樣品來(lái)工作，導致特征X射線(xiàn)從樣品中的每個(gè)元素發(fā)出熒光。 檢測器測量每個(gè)X射線(xiàn)的能量和強度（以特定能量每秒的x射線(xiàn)數），其使用諸如基本參數或用戶(hù)生成的校準曲線(xiàn)之類(lèi)的非標準技術(shù)轉換成元素濃度。

　　元素的存在通過(guò)元件的特征X射線(xiàn)發(fā)射波長(cháng)或能量來(lái)識別。 通過(guò)測量該元件的特征X射線(xiàn)發(fā)射的強度來(lái)量化存在的元素的量。

　　原子級

　　原子 - 堿性配置ONE - 所有原子具有固定數量的電子。這些電子排列在核周?chē)能壍郎稀Ｄ芰糠稚RF（EDXRF）通常捕獲前三個(gè)電子軌道K，L和M線(xiàn)的活動(dòng)。

　　原子 - 基本配置顯示殼 - 這些電子排列在核周?chē)能壍郎稀Ｄ芰糠稚RF（EDXRF）通常捕獲前三個(gè)電子軌道K，L和M線(xiàn)的活動(dòng)。